4Point-Probe 측정 장비 및 다양한 저항치 측정을 만족 시키기 위한 제품 정보를 제공하고 있습니다. 관심이 있는 제품의 텍스트나 그림을 클릭해 주십시오.

Guardian
SRM 표면 저항 측정기
합리적인 가격의
훠 포인트 프로브

Guardian 4220 Ultra-Fine
수동형 Four Point Probe

  전도성 필름및 웨이퍼
...................표면저항측정

 경량 휴대용

  9V 배터리 작동
  127 포인트 데이터 저장 능력
  RS-232 interface를 이용한 데이터 전송

  4 가지 모델

• Guardian-10 - 0.00 to 10.0 Ω/square.
• Guardian-100 - 0.00 to 95.00 Ω/square.
• Guardian-1000 - 0.00 to 1000.0 Ω/square.
• Guardian-2000 - 0.00 to 2000.0 Ω/square.

고정밀 & 고해상도 4-1/2 digit LCD display

고 정밀 고 정확성 표면저항 측정용

8" 웨이퍼 이상까지 측정가능

고정확성을 요구하는 시료의 표면저항 측정 가능

유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다.1~10⁶Ω-per-square 까지 측정합니다 

고정밀 & 고해상도 4-1/2 digit LCD display

Test- lead with a BNC-connector 포함

1mili ohm 이하 극소 표면저항 측정용

8" 웨이퍼 이상까지 측정가능

고정확성을 요구하는 전도성 시료의 표면저항 측정 가능

유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다.

Guardian 2000m 고정밀
수동형 Four Point Probe

Superior
박막 저항 측정 웨이퍼
맵핑 시스템
(Thin Film Resistivity Wafer Mapping System)

Jandel
수동형 Four Point Probe

  Prometrix 와 CDE Probes
Prometrix, KLA/Tencor, CDE system. , 모든 종류의 프로브

close space probes (20 mil spacing).

특수 Four Point Probe Head

  High/Low Temperature 4 Pt Probes
  Vacuum Chamber 4 Pt Probes
  Square Array (Hall) 4 Pt Probes
   5 Point Probes
  Close Needle Spacing Probes

  자동 스텝핑
  Cassette-to-Cassette 도 가능
  Windows Software
 고 신뢰성

5 가지의 프로브 유닛을 이용한 저항 테스트 유닛과 함께 사용합니다

  Resistivity Test Unit (Electronics)
유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다. 1~10⁶ Ω-per-square 까지 측정합니다 

  Multiposition 4 Point Probe
1mm 간격으로 8" 웨이퍼 상에서 1~9 포인트를 지정하여 측정합니다,

  Multi-Height 4 Point Probe
프로브의 높이를 자동 조정하여 대형 기판이나 인고트등을 측정합니다.

   일반 소형 샘플의 측정에 적당하다. 3" dia.의 웨이퍼 및 기판에 사용합니다. 

  3" 웨이퍼 및 기판형의 다목적용 프로브입니다.

  수동 위치 4 Point Probe
수동으로 프로브를 위치 시키며 대형 평판, 인고트등에 적용합니다.

PN-TYPE-IT
P / N Typing Probe

 신속정확하게 P, N 타입 판정

 고신뢰성을 위한 마이크로프로세서 콘트롤

 0.1초내에 같은 포인트를 4번 측정
 N, P, Error 표시

 저가격의 교환 핀

 높은 생산성

 0.01 ohm 단위 측정

NSRM-12 고성능 비접촉식 표면저항 측정기

Gap for Sample : 1~25mm
Range :0.5-ohm/square ~ 50 Ω/square
Serial Interface (Connection to PC or Printer)

40K 수동형 4 Point Probe

고정밀 & 고해상도 3 digit LCD display

비저항, 표면저항 측정용

웨이퍼 표면저항 비저항 측정가능

10milliOhm~40KOhm /square
1milli ohm ~1k ohm.cm

유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다.
데스크탑형

PN 타입 측정기 P100SL

-용도 :웨이퍼 인고트 PN타입 측정
-방식 : 비접촉식
-측정범위: 20 mΩcm to 3000 Ωcm
-측정시간: 0.5 s
-결과 표시: LED
-측정방식 : ~10-20 mm 간격 비접촉식
- Measuring distance depends on the resistivity and surface: e.g. for 10 Ωcm material with polishedsurface ~20 mm
-배터리 작동 : 약 10,000회

SZ3-접촉식 P/N Type 측정기
3Point Probe 방식 P/N Type 측정기
-용도 :웨이퍼 , 실리콘 lod ,조각, PN타입 측정
-방식 : 접촉식
-측정범위: 100 mΩ.cm ~ 1000 Ω.cm
-측정시간: 1 sec
-결과 표시: P and N
-측정방식 : hand holder,
-220v ,5W

Four Point Probing Information

 간단한 적용 예-표면저항치, Ω-Per-Square, 저항치 및 두께의 계산

 사용시 주의점 및 계산공식

 Four Point Probe 이론

 Four-Point Probe 매뉴얼

Tel 031-479-4211/2

Fax 031-479-4213

          Email JSi@JSiTS.com