4Point-Probe                               PROBE HOME   HOME 


4Point-Probe 측정 장비 및 다양한 저항치 측정을 만족 시키기 위한 제품 정보를 제공하고 있습니다. 관심이 있는 제품의 텍스트나 그림을 클릭해 주십시오.


Guardian
SRM 표면 저항 측정기
리적인 가격의
훠 포인트 프로브

Jandel
수동형4
Point Probe

Jandel
4 Point Probe Heads

Surface Resistivity Meter

Jandel Resistivity Test Equipment

Jandel four point probe heads for all known systems

click here for more information  전도성 필름및 웨이퍼
...................표면저항측정

click here for more information 경량 휴대용

click here for more information  9V 배터리 작동
click here for more information  127 포인트 데이터 저장 능력
click here for more information  RS-232 interface를 이용한 데이터 전송

  4 가지 모델

  • Guardian232-10 - 0.00 to 10.0 ohms/square.
  • Guardian232-100 - 0.00 to 95.00 ohms/square.
  • Guardian232-1000 - 0.00 to 1000.0 ohms/square.
  • Guardian232-2000 - 0.00 to 2000.0 ohms/square.






click here for more information5 가지의 프로브 유닛을 이용한 저항 테스트 유닛과 함께 사용합니다


click here for more information  Resistivity Test Unit (Electronics)
유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다. 1~107  Ohms-per-square 까지 측정합니다 

click here for more information  Multiposition 4 Point Probe
1mm 간격으로 8" 웨이퍼 상에서 1~9 포인트를 지정하여 측정합니다,

click here for more information  Multi-Height 4 Point Probe
프로브의 높이를 자동 조정하여 대형 기판이나 인고트등을 측정합니다.

click here for more information  고정확성을 요하는 소형 샘플의 측정에 적당하다. 3" dia.의 웨이퍼 및 기판에 사용합니다. 

click here for more information  3" 웨이퍼 및 기판영의 다목적용 프로브입니다.

click here for more information  수동 위치 4 Point Probe
수동으로 프로브를 위치 시키며 대형 평판, 인고트등에 적용합니다.

click here for more information  Prometrix 와 CDE Probes
Prometrix, KLA/Tencor, CDE system. , 모든 종류의 프로브

close space probes (20 mil spacing).

특수 Four Point Probe Head

click here for more information  High/Low Temperature 4 Pt Probes
click here for more information  Vacuum Chamber 4 Pt Probes
click here for more information  Square Array (Hall) 4 Pt Probes
click here for more information   5 Point Probes
click here for more information  Close Needle Spacing Probes


 

 

 

 

 

Superior
박막 저항 측정 웨이퍼
맵핑 시스템
(
Thin Film Resistivity Wafer Mapping System)

TYPE-IT
P / N Typing Probe

Superior
Manual Four Point Probe  
(
Computer Controlled Data Acquisition System)

Signatone Resistivity Mapping System

Type-It P and N Typing Probe

Signatone Quad Pro Resistivity Test System

click here for more information  자동 스텝핑
click here for more information  Cassette-to-Cassette 도 가능
click here for more information
  Windows Software
click here for more information 고 신뢰성

 

 

 





click here for more information 신속정확하게 P, N 타입 판정

click here for more information 고신뢰성을 위한 마이크로프로세서 콘트롤

click here for more information 0.1초내에 같은 포인트를 4번 측정
click here for more information N, P, Error 표시

click here for more information 저가격의 교환 핀

click here for more information 높은 생산성

click here for more information 0.01 ohm 단위 측정

 

 

click here for more information Manual 타입 Four Point Probe
click here for more information Computer Controlled Data Acquisition
click here for more informationWindows Software

 

 

 







Four Point Probing Information


click here for more information 간단한 적용 예-표면저항치, Ohms-Per-Square, 저항치 및 두께의 계산

click here for more information 사용시 주의점 및 계산공식

click here for more information Four Point Probe 이론

click here for more information Four-Point Probe 매뉴얼

Tel 031-479-4211/2

Fax 031-479-4213

          Email JSi@JSiTS.com